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x射线荧光光谱仪的物理原理及化学分析-凯发k8官方网站

发布时间:2021-06-03

  今天瑞盛科技的小编给大家介绍的是关于x射线荧光光谱仪的物理原理以及化学分析,希望大家在阅读下述内容介绍的过程当中,能够有所帮助,那么接下来就跟着小编一起来看下吧。


  x射线荧光光谱仪的物理原理:


  当材料暴露在短波长x光检查,或者伽马射线,它的组成原子也许会发生电离,假如原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,但是这会使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,为了填补遗留下来的洞。在“回补”的过程当中会释放出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。所以,物质放射出的辐射,这是原子的能量特性。


  x射线荧光光谱仪的化学分析:


  主要使用x射线束激发荧光辐射,第一次是在一九二八年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在,这种方法作为非破坏性分析技术,并且作为过程控制的工具,普遍使用于采掘还有加工工业。原则上,最轻的元素,可以分析出铍(z=4),可是因为仪器的局限性还有轻元素的低x射线产量,通常难以量化,因此针对能量分散式的x射线荧光光谱仪,能够分析从轻元素的钠(z=11)到铀,而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。


  综上所述便是深圳市瑞盛科技有限公司的小编给大家介绍的全部内容,更多精彩资讯欢迎下期看点。




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